公司新聞2021-09-18
掃描電鏡SEM分辨率的影響因素-華普通用
入射電子束束斑直徑：為掃描電鏡分辨本領的極限。一般，熱陰極電子槍的最小束斑直徑可縮小到6nm，場發射電子槍可使束斑直徑小于3nm。
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1021-09
ICP/XRF光譜儀組合技術對粉體樣品元素含量進行快速和精準分析-華普通用
X射線熒光光譜儀（XRF）和電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP），是目前應用范圍較廣、技術非常成熟的光譜分析手段，在元素分析實驗室有著廣泛的應用。 -
2721-08
掃描電鏡設備技術參數及測試注意事項-華普通用
掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。 -
2021-08
德國蔡司掃描電鏡SEM的原理-華普通用
sem掃描電鏡的原理是依據電子與物質的相互作用，掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描 -
1321-08
德國斯派克火花直讀光譜儀日常維護小課堂-華普通用
斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過程中會遇到各種問題，現小編綜合概況如下，希望對大家有所幫助：